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EUV不是必须的 DUV光刻还没到极限:逼近台积电2nm不是梦
2026-07-05 18:20:13  出处:快科技 作者:宪瑞 编辑:宪瑞     评论(0)点击可以复制本篇文章的标题和链接复制对文章内容进行纠错纠错

快科技7月5日消息,EUV光刻机被认为是5nm以下工艺不可或缺的关键设备,然而EUV成本高,再加上受限的情况下,半导体工艺只靠当前的DUV光刻能做到什么地步?

这个问题是Intel、台积电、三星等公司不会面对的,因为他们已经切换到EUV路线了,但一家名为SMIC的公司还在不断优化DUV光刻极限,业内的光刻技术大佬Frederick Chen日前又注意到了SMIC申请的2个专利,展示了该公司在这方面的探索。

SMIC公司在中美两地都申请了这个专利,最早在2024年10月份就率先在中国境内申请了,目标是提高晶体管密度的同时也提高设计的灵活性。

文章的技术内容太过高深,感兴趣的可以看原文,简单来说就是SMIC公司在SAQP自对准四重图案与传统的LELE(光刻+蚀刻)两个技术中如何寻求平衡的技术。

SAQP技术可以在不依赖EUV光刻机的情况下,借助DUV光刻就实现极高精度,但是成本太高,Intel以前就在SAQP技术上吃过大亏,芯片生产良率低,成本高,量产可行性大打折扣。

SMIC的专利技术就是通过EDA设计+多重曝光协同优化,把之前需要SAQP处理的层改成用LELE处理,使得光罩需求量大幅下降,对准压力减少,提升了芯片良率。

这些技术可以将芯片的最小间距缩小到24nm,这是什么水平呢?大佬文章中提到其单元高度符合台积电3nm到2nm水平之间。

EUV不是必须的 DUV光刻还没到极限:逼近台积电2nm不是梦

现在曝光的这些技术专利是SMIC未来工艺的一部分而已,还会有更多的技术不断出现,他们的目标是未来几代工艺都不需要依赖EUV光刻,大佬之前的文章中提到未来会有N+4到N+6工艺,间距也会持续缩进,晶体管密度也会一路提升,N+6预计能做到305Mtr/mm2,大约是1.Xnm级别的工艺了。

总之,在DUV这条路上SMIC公司还会持续迭代打磨,未来几年靠这些技术可以做到国际顶尖水平,就算时间上还落后一两年甚至两三年都没关系,因为海外大厂自己就会担心——他们只是用了DUV就追上来了,EUV问世之后那还得了?

EUV不是必须的 DUV光刻还没到极限:逼近台积电2nm不是梦

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责任编辑:宪瑞

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