正文内容 评论(0

芯片报废率80%的3nm可怜虫:这下有救了
2023-01-04 16:09:04  出处:快科技 作者:万南 编辑:万南     评论(0)点击可以复制本篇文章的标题和链接

去年底台积电宣布3nm量产,预计今年年中之后在终端层面开始大规模应用。

随后有业内专家透露,台积电3nm的良率可达80%,非常可观。

然而,提前半年投产3nm的三星,则有些尴尬,据说良率仅20%。这个表现,难怪没有大厂敢下单。

虽说三星上马了GAA晶体管,技术难度高算是情有可原,然而和台积电差距这么大显然不是长久之计。

据DT报道,三星正在调整的一个优化方案是,在3nm EUV光刻中引进穿透率达90%的掩模保护膜,供应商是本土公司S&S Tech。

EUV光刻与此案的ArF(氟化氩)曝光设备不同,光反射到镜子后,再到晶片,因此光源损失很大。要想使光源损失降到最低,必须使用穿透率超过90%的EUV用保护膜,从而保护光罩。

三星这一调整,能否有效提高3nm GAA芯片的良率,还有待检验。

芯片报废率80%的3nm可怜虫:这下有救了

【本文结束】如需转载请务必注明出处:快科技

责任编辑:万南

文章内容举报

  • 支持打赏
  • 支持0

  • 反对

  • 打赏

文章价值打分

当前文章打分0 分,共有0人打分
  • 分享好友:
  • |
本文收录在
#3nm#3纳米#三星

  • 热门文章
  • 换一波

  • 好物推荐
  • 换一波

  • 关注我们

  • 微博

    微博:快科技官方

    快科技官方微博
  • 今日头条

    今日头条:快科技

    带来硬件软件、手机数码最快资讯!
  • 抖音

    抖音:kkjcn

    科技快讯、手机开箱、产品体验、应用推荐...