10月底，Intel发布了自己的第一款20nm工艺闪存固态硬盘SSD 335，性能尚可，但是可靠性方面却差劲得离谱，实测寿命还不到理论值的三分之一，而且这并不是个例，不少评测媒体都得到了类似的结果。

今天，我们终于等到了Intel的回复。

Intel固态硬盘提供了一个叫做Media Wearout Indicator(媒体损耗指示器/MWI)的参数，使用硬盘闪存循环的次数，除以标称的编程/擦写循环(P/E)次数，换算成百分比之后与100％的差值，就是这块硬盘的预期剩余寿命，而每一种固态硬盘的P/E指标都是预先写死在固件中的。

问题就出现在这个P/E指标上。SSD 335本来应该是3000次，和上一代的SSD 330一样，但早期的非量产样品只有1500次，Intel就是按照这个数据写入固件的，可是最后送测给媒体的样品应该与零售版相同，也是3000次，Intel却忘了更改，就闹了这么个乌龙。

测试显示SSD 335的最大写入量只有250TB左右，那么增加一倍应该是大约500TB，240GB容量型号可以全盘写入2083次，每天一次的话就是5.7年。即便你的使用负载写入放大系数为10(一般不可能的)，那么每天写入24GB的话也能用将近6年，绰绰有余了。

另外还有一点，即便是MWI最终变成了0，也不意味着固态硬盘的立即报废，它仍然可以坚持使用一段时间，只是性能会变低一些而已。

Intel表示会在本月底提供SSD 335的新固件，修复这个bug，因此大家不必担心其寿命问题。

顺便提一句，SSD 330上的MWI指标不起作用，始终都会显示100％，Intel确认说同样是个bug，会在12月份升级固件解决它。