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国产方向盘离手检测芯片内测成功:40nm车规级工艺
2026-06-18 17:10:33  出处:快科技 作者:红茶 编辑:红茶     评论(0)点击可以复制本篇文章的标题和链接复制对文章内容进行纠错纠错

快科技6月18日消息,苏州国芯科技发布自愿披露公告,公司自主研发的新一代汽车电子方向盘离手检测触控MCU CCM4202S-O完成全部内部测试,测试结果达标。

CCM4202S-O专为车载HOD(方向盘离手检测)系统定制开发,采用40nm EFLASH工艺制造。该芯片遵循汽车电子Grade2可靠性标准及功能安全ASIL-B等级规范设计。

片内集成32KB SRAM、512KB FLASH、4KB模拟EEPROM存储单元,配套16通道TSI触控检测模块、CAN FD、LIN、多路SPI与ADC等车载通信及采集外设。

芯片提供LQFP48与LQFP64两种主流封装形式,可匹配不同尺寸方向盘控制器的硬件方案。

HOD离手检测是L2及以上高阶辅助驾驶的强制安全组件,用于实时识别驾驶员手部状态,防止车辆长时间脱离人工操控。

国产方向盘离手检测芯片内测成功:40nm车规级工艺

依据国内智能网联汽车强制性国标,自2027年1月1日起,全新申报的L2/L2+车型必须标配HOD系统,存量在售车型同步设置13个月整改过渡期。

据行业测算,2026年国内新车HOD搭载率将提升至65%,市场需求正持续扩容。此前该领域的集成触控MCU长期依赖海外供应商,是新能源车载芯片细分领域的供给短板之一。

CCM4202S-O拥有全部自主知识产权,可缓解国内车企及Tier1厂商在方向盘检测芯片方面的供应紧缺问题。

该芯片在研发阶段已获得多家国内方向盘模组厂商的关注与跟进,目前已有多家下游客户启动基于CCM4202S-O的硬件模组开发、配套控制软件设计与摸底测试。

国芯科技同步发布风险提示,本次测试仅为芯片内部实验室测试,尚未进入车规可靠性认证及批量流片阶段,芯片量产及上车配套时间暂无明确时间表。

国产方向盘离手检测芯片内测成功:40nm车规级工艺

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