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Intel SSD 335“短命”释疑:固件小bug
2012-11-19 09:20:15  作者:上方文Q 编辑:上方文Q   点击可以复制本篇文章的标题和链接
 
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10月底,Intel发布了自己的第一款20nm工艺闪存固态硬盘SSD 335,性能尚可,但是可靠性方面却差劲得离谱,实测寿命还不到理论值的三分之一,而且这并不是个例,不少评测媒体都得到了类似的结果。

今天,我们终于等到了Intel的回复。

Intel固态硬盘提供了一个叫做Media Wearout Indicator(媒体损耗指示器/MWI)的参数,使用硬盘闪存循环的次数,除以标称的编程/擦写循环(P/E)次数,换算成百分比之后与100%的差值,就是这块硬盘的预期剩余寿命,而每一种固态硬盘的P/E指标都是预先写死在固件中的。

问题就出现在这个P/E指标上。SSD 335本来应该是3000次,和上一代的SSD 330一样,但早期的非量产样品只有1500次,Intel就是按照这个数据写入固件的,可是最后送测给媒体的样品应该与零售版相同,也是3000次,Intel却忘了更改,就闹了这么个乌龙。

Intel SSD 335“短命”释疑:固件小bug

测试显示SSD 335的最大写入量只有250TB左右,那么增加一倍应该是大约500TB,240GB容量型号可以全盘写入2083次,每天一次的话就是5.7年。即便你的使用负载写入放大系数为10(一般不可能的),那么每天写入24GB的话也能用将近6年,绰绰有余了。

另外还有一点,即便是MWI最终变成了0,也不意味着固态硬盘的立即报废,它仍然可以坚持使用一段时间,只是性能会变低一些而已。

Intel表示会在本月底提供SSD 335的新固件,修复这个bug,因此大家不必担心其寿命问题。

Intel SSD 335“短命”释疑:固件小bug

顺便提一句,SSD 330上的MWI指标不起作用,始终都会显示100%,Intel确认说同样是个bug,会在12月份升级固件解决它。

Intel SSD 335“短命”释疑:固件小bug

 

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