无需拆机即可检测新 iPhone 的 NAND 架构--快科技--科技改变未来

正文内容 评论（0）

无需拆机即可检测新 iPhone 的 NAND 架构

2014-11-11 22:42:47 出处：威锋网编辑：快科技评论(0)

　　威锋网讯，自?iPhone?6?发布之后，网上就传出了各种各样的硬件问题，其中比较“著名”的要数“弯弯门”了，另外在?NAND（闪存）方面，也曝出过不好的新闻。早前更是有消息指出苹果计划召回?128GB?的新?iPhone（虽然后来没有了下文）。
　　根据韩国媒体?BusinessKorea?的报导，苹果正在考虑将?iPhone?6?和?iPhone?6?Plus?的?NAND?闪存构架从三阶储存单元（Triple-Level?Cell，即?TLC）改为多阶储存单元（Multi-Level?Cell，即?MLC），其主要原因就是前段时间曝出的?NAND?闪存引起的崩溃现象。而主要出现这种问题的设备主要集中在?64GB?和?128GB?的新?iPhone?上。
　　那么如何检测自己的?iPhone?闪存是否使用了?TLC?的架构呢？锋友?jocover?和我们分享了一个检测的方法（安装插件），该方法除了可以检测出闪存的架构之外，还可以检测出闪存的供应商（苹果在闪存方面使用了不同的供应商）。这个检测方法需要越狱才能进行，请点击原文查看详细教程和注意事项。

责任编辑：