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iPhone 6 Plus存新质量问题 恐大规模召回
2014-11-04 15:06:42  出处:快科技 作者:雪花 编辑:雪花   点击可以复制本篇文章的标题和链接

本身供应就不多iPhone 6 Plus接连爆出问题,这次又有新的事情发生。

台媒、韩国给出的最新报道称,iPhone 6 Plus存在质量上的问题,其会频繁死机,可能是使用的TLC NAND存储器控制IC的问题。

报道中强调,苹果为了节省成本,使用了TLC NAND存储器控制,虽然存容量更多,但是读取/写入的速度比较慢

之前已经有不少果粉在苹果的官方论坛表示,自己的iPhone 6 Plus送修多次,最夸张的一位送修了4次依然没有解决问题。业内人士指出,这很可能是iPhone内部NAND Flash控制的IC品质瑕疵所导致

如果这是真的,那么苹果或将因此宣布大规模召回。

iPhone 6 Plus存新质量问题 恐大规模召回

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