浦科特作为世界高端刻录机的生产厂商，其产品一向凭借极高的性能和首屈一指的技术领跑于业界的最前沿。尤其是近日推出的新款刻录机PX-880SA，更是将刻录的性能推向了世界的顶点。

对浦科特系列产品稍有关注的朋友一定知道，包括PX-880SA在内的浦科特高端机种一定会集成很多特殊功能。而更多的朋友可能对其具体用法不甚了解。因此，我们将为大家介绍一些的高阶使用方法，让各位玩家能够真正体会到“刻录品质之王”的魅力所在！

今天我们首先来深入分析一下880SA的TE/FE测试功能。这项功能比较特殊，因为它是唯一一个针对空白盘片的测试功能。

TE/FE测试的全称是“轨道/聚焦错误测试”，这项测试可以检测出一张空白碟片的轨道平整度以及反射性能的好坏，这些因素对于盘片在高速环境下尤为重要。因此该测试又可称为空白碟片的“品质探测器”。从原理上来说，TE（轨道错误）的曲线越光滑平稳，说明盘片轨道（横向）越平整、激光越容易锁定位置，刻录出较高的再生品质。而FE（聚焦错误）曲线越光滑平稳，说明碟片的盘面（纵向）越平滑，出错概率也就越小。

通常来讲，TE/FE在内圈多表现的较好，而在外圈时会有不同程度的偏高。下面我们将以实际操作来说明这项技术的用法。

为了说明测试效果，我们结合实际经验选择了3种品质不同的盘片，从高到低依次是品牌A、品牌B和品牌C。TE/FE测试速度对应的曲线能直观的表现出该盘片适应该速度的能力。
 

【A盘片 高速TE/FE结果】

【A盘片 刻录品质】

【B盘片 高速TE/FE结果】

【B盘片 刻录品质】

【C盘片 高速TE/FE结果】

【图8 C盘片 刻录品质】

从测试结果我们可以看到， A、B、C三种盘片对应高速刻录的适应能力是呈现递减的情况。这也说明了一张空白盘片的聚焦错误和轨道错误的大小将直接决定该盘片预期刻录品质的好坏。此功能不仅能帮助我们节约大量挑选盘片的时间和精力，而且比人工经验判断更为直观和清晰。不仅仅是刻录玩家，甚至很多盘片生产厂商也都采用浦科特的高端机种进行碟片品质检测。这足以体现出这一功能强大的实际操作意义。

在此，相信大家已经欣赏到了TE/FE的功能的强大之处。而这只是浦科特作为“世界刻录机品质之王”众多功能中的“冰山一角”。在后面的系列中，我们将和大家分享PX-880SA另外的一些有趣的功能，和某些不为人知的秘密，让大家彻底领略浦科特的与众不同和飞跃世界技术巅峰的超强魅力，敬请期待！