由于绝大部分普通PC用户现在还没有机会实际使用固态硬盘，大多都是通过各种测试和厂商宣传来了解它的性能。而在使用新品进行短期测试的情况下，固态硬盘由于存储原理导致的长期使用性能下滑问题往往得不到体现，而这在日常使用中却往往是致命的。今年2月，Intel的X25-M就曝出过这样的问题，4月份才推出了8820版新固件解决。

简单地说，出现长期使用性能下滑问题的根源来自于NAND闪存的读写原理。目前所有固态硬盘的存储空间都是由一个个存储单元组成的，每个存储单元都由4KB容量的“Page”页和512KB容量的“Block”区块构成。当存储单元为空时，新增数据可以快速直接写入。而当其中包含部分数据时，即使旧数据只占用了一个Page，也需要将整个Block重写。这时，固态硬盘就必须读取整个Block的数据，判断各Page内容是否仍有效，然后与新数据合并后再整体写入Block。显然，这一过程要比直接写入数据复杂耗时得多。

由于该过程存在于固态硬盘内部的数据存储过程中，与操作系统无关，因此只能依靠SSD固件内的自动优化机制来解决，也就是所谓的“固态硬盘碎片整理”。Intel的8820版固件实际上就是加入了此类碎片整理算法。日前，OCZ也连同其闪存控制器供应方Indilinx公司，开发出了针对Vertex系列高端固态硬盘的自动碎片整理新固件，Hothardware网站则对其进行了初步测试。

首先来看OCZ Vertex固态硬盘的实物外观及内部结构：